濱松于ASMS會議中發布質譜用光電器件最新動向
發布時間:2019-06-04 ,活動時間:2019年6月2日-6日 ,活動地點:美國·亞特蘭大

美國質譜學會(American Society for Mass Spectrometry,ASMS)成立于1969年,其年會已是目前世界上最重要的質譜會議之一。第67屆大會(ASMS2019)于當地時間2019年6月2-6日在美國佐治亞州亞特蘭大召開。濱松質譜用光電器件的最新動向在本次會議中全面呈現(濱松展位:110)。


濱松擁有65年光電探測器的研制經驗,享譽世界,而在質譜用探測器技術的耕耘也已有40年的歷史,可為質譜提供離子化光源、電子倍增器(EM)、微通道板(MCP)等產品。而在2018年,則集中發布了一系列用于質譜探測的全新產品,包括可在低真空度下高效工作的柵網陽極結構第三代MCP(GEN3 MCP);高速、高增益、寬動態范圍的MCP+AD(MCP復合雪崩二極管結構);無鉛、寬動態范圍的通道式電子倍增器(CEM);用于MALDI-TOF-MS,可大幅縮短其前期處理時間的輔助離子化基板DIUTHAME。


發布后的一年中,新產品也通過大量的實際應用得到了打磨,整體更加趨于成熟,在本次ASMS大會中將再次得以呈現。其中,在質譜成像分析領域,輔助離子化基板DIUTHAME獲得了豐富的新應用實例,并進行了技術升級(Blotting技術),會中亦將發布多張海報對此進行了展現。此外,濱松也將首次披露新品EM+AD的信息,為ICP-MS應用開發的Dual Mode EM加上AD,實現了長壽命的性能,此外計數線性度也得到了明顯的改善。歡迎蒞臨濱松展位(展位號:110)參觀。


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ASMS會議期間海報發布安排

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