失效分析系統

通過微弱的光發射和熱發射來定位半導體器件上失效缺陷位置的顯微鏡成像系統。

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產品圖像 產品型號 產品名稱
產品圖像: 產品型號:C10506-06-16 產品名稱:iPHEMOS-MP倒置發射顯微鏡
產品圖像: 產品型號:C10506-05-16 產品名稱:iPHEMOS-DD倒置發射顯微鏡
產品圖像: 產品型號:C14229-01 產品名稱:Thermal F1 熱發射顯微鏡
產品圖像: 產品型號:C11222-16 產品名稱:PHEMOS-1000 微光顯微鏡
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